8V182512IDGGREP

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Pièce du fabricant

8V182512IDGGREP

Fabricant
Texas
La description
IC ABT SCAN TEST DEV3.3V 64TSSOP
Catégorie
circuits intégrés
Famille
logique - logique de spécialité
Séries
-
En stock
0
Fiches techniques en ligne
-
Enquête
  • séries:-
  • emballer:Tape & Reel (TR)Cut Tape (CT)
  • état de la pièce:Active
  • type logique:ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers
  • tension d'alimentation:2.7V ~ 3.6V
  • nombre de bits:18
  • température de fonctionnement:-40°C ~ 85°C
  • Type de montage:Surface Mount
  • paquet / caisse:64-TFSOP (0.240", 6.10mm Width)
  • paquet de dispositif de fournisseur:64-TSSOP
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