SN74ABT8245DW

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Pièce du fabricant

SN74ABT8245DW

Fabricant
Texas
La description
IC SCAN TEST DEV/TXRX 24-SOIC
Catégorie
circuits intégrés
Famille
logique - logique de spécialité
Séries
-
En stock
24
Fiches techniques en ligne
-
Enquête
  • séries:74ABT
  • emballer:Tube
  • état de la pièce:Active
  • type logique:Scan Test Device with Bus Transceivers
  • tension d'alimentation:4.5V ~ 5.5V
  • nombre de bits:8
  • température de fonctionnement:-40°C ~ 85°C
  • Type de montage:Surface Mount
  • paquet / caisse:24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
  • paquet de dispositif de fournisseur:24-SOIC
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Catégorie de produits

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