SN74ABTH18646APM

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Pièce du fabricant

SN74ABTH18646APM

Fabricant
Texas
La description
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
Catégorie
circuits intégrés
Famille
logique - logique de spécialité
Séries
-
En stock
160
Fiches techniques en ligne
-
Enquête
  • séries:74ABTH
  • emballer:Tray
  • état de la pièce:Active
  • type logique:Scan Test Device With Transceivers And Registers
  • tension d'alimentation:4.5V ~ 5.5V
  • nombre de bits:18
  • température de fonctionnement:-40°C ~ 85°C
  • Type de montage:Surface Mount
  • paquet / caisse:64-LQFP
  • paquet de dispositif de fournisseur:64-LQFP (10x10)
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Catégorie de produits

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